512×512(262144) 위상점의 초고분해능으로 900nm ~ 1200nm 대역에서 고정밀 파면 측정이 가능하며 광학 시스템 수차 측정, 광학 시스템 교정, 재료 내부 격자 분포 측정, 메타표면, 슈퍼렌즈에 사용할 수 있습니다.파면 측정, 등.
FIS4-NIR 근적외선 4파장 간섭계 센서는 특허 받은 무작위 코딩 4파장 회절 기술과 적외선 카메라를 결합하고 후면 이미지 평면 위치에서 간섭합니다. 광원의 일관성에 대한 요구 사항이 낮으며 위상 변이가 필요하지 않습니다. 일반 이미징 시스템은 간섭계 측정을 수행할 수 있습니다. 초고진동성과 초고안정성을 갖추고 있으며, 제진 없이 nm급 정밀 측정이 가능합니다.
주요 기능
◆ 512×512(262144) 위상점의 초고해상도
◆ 단일 경로 광 자기 간섭, 기준광 필요 없음
◆ 넓은 스펙트럼 900nm~1200nm 대역
◆ 2nm RMS 높은 위상 분해능
◆ 최대 270μm의 넓은 다이내믹 레인지
◆ 매우 강한 내진동성, 광학적 진동 차단이 필요 없음
◆ 이미징과 같이 간단하고 빠른 광로 구성
◆ 시준빔 및 대형 NA 수렴빔 지원
제품 응용
광학계 수차 측정, 광학계 교정, 재료 내부 격자 분포 측정, 메타표면, 슈퍼렌즈 파면 측정.
