파면 감지 분야에서, Bojiong fis4 uhr wavefront 검출기는 중요한 기술적 도약을 나타냅니다. 전통적인 Microlens 어레이 Hartmann 센서와 비교하여 Bojiong은 위상 포인트 수에서 상당한 획기적인 획기적인 발전을 달성 할뿐만 아니라 더 미세한 해상도와 더 풍부한 세부 기능을 제공 할뿐만 아니라 적응 형 대역폭 및 동적 범위에서 우수한 성능을 보여줍니다. 이는 Bojiong FIS4 UHR 웨이브 프론트 검출기가 더 넓고 복잡한 측정 요구 및 환경 조건을 처리 할 수있어 사용자가 전례없는 측정 유연성 및 적용 가능성을 제공 할 수 있음을 의미합니다.
Bojiong 센서의 초고 정의 해상도는 400 ~ 900 나노 미터의 광범위한 스펙트럼 응답으로 보완되어 다양한 광학 조건에서 높은 정확도와 신뢰성을 보장하는 512 × 512 (262,144 위상 포인트)에 도달합니다. 또한, 5 프레임의 전체 해상도 실시간 3D 결과의 디스플레이를 지원하여 사용자에게 즉각적이고 동적 측정 피드백을 제공하여 작업 효율성을 크게 향상시킵니다. Bojiong FIS4 UHR 파면 검출기를 선택한다는 것은 해상도, 더 넓은 범위 및 더 큰 효율로 파면 감지 솔루션을 선택하는 것을 의미합니다.
광원 유형 |
연속 레이저, 펄스 레이저, LED, 할로겐 램프 및 기타 광대역 광원 |
파장 범위 |
400nm ~ 900nm |
대상 크기 |
13.3mm × 13.3mm |
공간 해상도 |
26 m m |
위상 출력 분해능 |
512 × 512 |
절대 정확도 |
15nmrms |
위상 분해능 |
≤ 2nmrms |
동적 범위 |
≥160μm |
샘플링 속도 |
40fps |
실시간 처리 속도 |
5Hz (최대 해상도) |
인터페이스 유형 |
USB3.0 |
차원 |
70mm × 46.5mm × 68.5mm |
무게 |
약 240g |
냉장 방법 |
없음 |
◆ 100% 국내 개발
◆ 512 × 512 (262144)의 초고 해상도
◆ 단일 경로등의 자기 간섭, 참조 표시등이 필요하지 않습니다
◆ 넓은 스펙트럼 400nm ~ 900nm 대역
◆ 2nm RMS 고 위상 해상도
◆ 매우 강한 진동 저항, 광학 진동 분리 필요 없음
◆ 레이저 간섭 프린지 억제 설계
◆ Collimated Beams 및 큰 NA 수렴 빔을지지합니다
레이저 빔 파면 감지, 적응 형 광학, 표면 모양 측정, 광학 시스템 교정, 광학 창 검출, 광학 평면, 구형 표면 형상 측정, 표면 거칠기 감지에 사용되는이 Bojiong FIS4 UHR 파면 검출기.
레이저 빔 파장 감지 |
광학 평면 표면 형상 측정 |
광학 구형 표면 형상 측정 |
광학 시스템의 수차 측정 |
광학 창 조각 감지 |
재료 내부의 격자 분포 측정 |
적응 형 광학 - Zernike 모드에서 파면 감지 응답 |
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Bojiong FIS4 UHR Wavefront Detector는 싱가포르의 Zhejiang University와 Nanyang Technological University의 교수 팀에 의해 개발되었습니다. 특허받은 랜덤 코딩 된 4 파 회절 기술을 사용하여 단일 채널 웨이브 프론트 자기 간섭을 달성합니다. 간섭은 백 이미지 평면 위치에서 발생하며 광원 일관성에 대한 요구 사항이 낮고 위상 이동이 없습니다. 일반 이미징 시스템은 간섭계 측정을 달성 할 수 있습니다. 초고 충격 저항과 매우 높은 안정성을 가지며 진동 분리없이 나노 미터 수준의 정밀도 측정을 달성 할 수 있습니다. Microlens 어레이 Hartmann 센서와 비교하여 더 많은 위상 포인트, 더 넓은 적응 형 대역 범위, 더 큰 다이나믹 레인지 및 저렴한 가격이 있습니다.
과학 연구와 고정밀 산업 현장 개발을 지원하는 것을 목표로합니다. 더 높은 해상도는 파면 감지에서보다 자세한 정보를 제공 할 수 있습니다. 초고 해상도 512 × 512 (262144) 위상 포인트, 400-900nm 너비의 스펙트럼 응답, 5 프레임의 5 프레임의 5 프레임, 레이저 빔 감지 도구, 적응 형 광고, 평면 표면 측정, 표면 측정, 광학 스포츠 퓨어, 광학적 스포츠 감지, 표면 측정, 광학 측정법, 광학 측정 척도를위한 이상적인 파면 감지 측정 도구를 제공합니다. 마이크로 컨투어 등
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