Bojiong (상하이) Precision Machinery Technology Co., Ltd
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제품
FLS4 고해상도 웨이브 프론트 센서 400-1100nm

FLS4 고해상도 웨이브 프론트 센서 400-1100nm

Bojiong은 중국 제조업체이자 고해상도 웨이브 프론트 센서의 공급 업체입니다. 우리는 수년간 광학 검사를 전문으로했습니다. FIS4 고해상도 웨이브 프론트 센서 400-1100NM은 매우 빠른 응답 시간으로 고객 요구를 충족시키기 위해 사용자 정의 할 수 있습니다. 우리는 경쟁력있는 가격으로 고품질의 포괄적 인 솔루션을 제공합니다. 우리는 중국에서 장기 파트너가되기를 기대합니다.


FIS4 고해상도 웨이브 프론트 센서 400-1100nm

보지온FIS4 HR-W 웨이브 프론트 센서 400-1100nm특징 300x300 고해상도 위상 감지 지점과 고성능 계산 코어 (최대 2nm RMS의 측정 정확도 포함)는 초당 10 프레임에서 전체 해상도로 실시간 파면 데이터를 제공합니다. 혁신적인 공통 경로 간섭계 설계는 진동 격리없이 고 진동 환경에서도 안정적인 작동을 보장합니다. 국내에서 무작위로 개발 된 격자 및 강력한 재구성 알고리즘은 탁월한 간섭 저항, 정확한 측정 성능 및 광범위한 산업 적용 가능성을 보장합니다.

 

보지온FIS4-HR-W 웨이브 프론트 센서 400-1100Nm 소개

보지온FIS4 고해상도 웨이브 프론트 센서 400-1100nm회사의 최신 고정밀 광학 검사 제품입니다. ISO 9001 및 China National Institute of Metrology (NIM) 인증 표준을 준수하며 1 년 보증이 제공됩니다. 그만큼FIS4-HR-W 웨이브 프론트 센서공통 경로 간섭계와 실시간 파면 재구성 알고리즘을 사용하여 위상 변화가 필요하지 않으며 탁월한 진동 저항을 제공합니다. 가장 엄격한 과학 연구 및 산업 검사 요구 사항을 충족하도록 설계된이 제품은 플러그 앤 플레이 운영 및 간단한 유지 보수를 제공합니다.

 

보지온FIS4-HR-W 웨이브 프론트 센서 400-1100Nm 매개 변수 (사양)

광원

LED, 할로겐 램프 및 기타 넓은 스펙트럼 광원

파장 범위

400 ~ 1100Nm백색광

대상 크기

7.07mm × 7.07mm

공간 해상도

23.6μm

위상 출력 분해능

300 × 300

절대 정확도

10nmrms

위상 분해능

≤2nmrms

동적 범위

≥80μm

샘플 속도

24fps

실시간 처리 속도

10Hz완전한 결의로

인터페이스 유형

네트워크 인터페이스

크기

56.5mm × 43mm × 41.5mm

무게

약 1220g

냉각 방법

없음

참고 : 레이저 측정에 이미징 프린지 간섭이있을 수 있으므로 레이저 측정에는 권장되지 않습니다.

 

보지온FIS4-HR-W 웨이브 프론트 센서 400-1100Nm 기능 및 응용 프로그램

 2006 년부터 Zhejiang University의 Yang Yongying 교수의 팀은 Wide Spectrum을 시작했습니다.FIS4 시리즈 웨이브 프론트 센서17 년간의 연구 개발 후, 공통 경로 설계 및 실시간 파면 재구성 알고리즘을 사용합니다.

· 진동이 필요없이 파면 데이터의 실시간 감지가 가능합니다.

격리 플랫폼.

· 감도는 2nm Rms에 도달 할 수 있습니다.

· 단일 광 경로 설계는 참조 표시등이 필요하지 않아 플러그 앤 플레이 작동을 가능하게합니다.

· 크기는 주먹의 크기 일뿐입니다.

이것FIS4 고해상도 웨이브 프론트 센서 400-1100nm산업, 과학 연구 및 국방에서 편리한 간섭계를 위해 설계되었습니다. 300 × 300 (90,000) 위상 포인트의 고해상도, 400 ~ 1100 nm의 광범위한 스펙트럼 응답 및 전체 해상도에서 실시간 3D 디스플레이의 10 프레임을 사용하여 빔 파면 측정, 적응 형 광학, 광학적 형태 검사, 광학적 평평성 및 스파트 표면 및 지표면 및 지표면과 같은 응용 분야를위한 이상적인 파면 감지 측정 도구를 제공합니다. 마이크로 프로파일 검사.


 

보지온FIS4-HR-W 웨이브 프론트 센서 400-1100Nm 애플리케이션

빔 파면 감지

광학 평면 표면 형상 측정

광학 구형 표면 형상 측정

광학 시스템의 수차 측정

광학 창 조각 감지

재료 내부의 격자 분포 측정

Zernike 모드 파면 감지 응답

 

 

보지온FIS4-HR-W 웨이브 프론트 센서 400-1100Nm  세부

 

 

그만큼FIS4 고해상도 웨이브 프론트 센서 400-1100nm특허받은 랜덤 코딩 된 4 파 회절 기술을 활용하여 단일 측정 된 웨이브 프론트의 자기 간섭을 달성하여 후면 이미지 평면에서 간섭을 생성합니다. 최소 광원 일관성이 필요하고 위상 변화의 필요성을 제거하여 표준 이미징 시스템을 사용하여 간섭계 측정을 가능하게합니다. 그만큼FIS4-HR-W 웨이브 프론트 센서 탁월한 진동 저항 및 안정성을 제공하여 진동 분리없이 나노 미터 수준 정밀도를 달성합니다. Microlens 어레이 Hartmann 센서와 비교하여 고해상도 위상 포인트, 더 넓은 파장 범위, 더 큰 동적 범위 및 우수한 가격 성능 비율을 자랑합니다.

 

그림 1. 무작위로 코딩 된 하이브리드 격자 (REHG)를 사용한 4 파 측면 전단 간섭을 기반으로 한 상 이미징 원리

 

그림 2. 4 파 측면 전단 간섭 그램으로부터의 정사각형 파면 재구성

 


그만큼FIS4 웨이브 프론트 센서소형, 견고성, 높은 시간적 해상도 및 기존 현미경 시스템과의 호환성과 같은 고유 한 장점으로 인해 연구 및 산업 분야의 광범위한 응용 분야를 갖춘 강력하고 다양한 도구가되었습니다. 광학 성분 테스트, 레이저 빔 평가 및 적응 형 광학을 포함한 전통적인 광학 상점 층 검사에 처음 사용 된 이후, 그 응용은 생의학 이미징, 나노 입자 위치, 메타 수면 특성화 및 온도 그라디언트 특성화를 포함하도록 확장되었습니다.

그만큼FIS4 Wavefront 센서Compact Design은 기존 현미경 시스템에 쉽게 통합 할 수있는 반면, 고 진동 환경에서도 정확한 간섭계 민감도를 유지하는 능력에 의해 견고성이 입증됩니다. 또한, FIS4 웨이브 프론트 센서는 단일 샷 측정 할 수있어 빠른 동적 프로세스를 캡처 할 수 있습니다. 생의학 연구에서FIS4 웨이브 프론트 센서COS-7, HT1080 세포, RPE 세포, CHO 세포, HEK 세포 및 뉴런과 같은 다양한 살아있는 세포의 라벨이없는 고해상도, 실시간 영상에 사용되었습니다.

그만큼FIS4 웨이브 프론트 센서위상 지연 영상에 사용되어 이방성 조직 및 콜라겐 섬유 및 세포 골격과 같은 세포 내 구조를 시각화하기위한 강력한 대비를 제공합니다. 이 기술은 또한 X- 선, 중간 파장 적외선 (MWIR) 및 LWIR (Long-wiplegrength Infrared) 영역의 상 영상화로 확장되어 학제 간 적용에 대한 잠재력을 더욱 입증했습니다. 또한, 최근의 연구FIS4 웨이브 프론트 센서메타 수프 및 2 차원 재료의 특성화에 파도 감지 기술을 광범위하게 적용하여 광학 및 재료 과학의 다양한 용도와 잠재적 가치를 보여줍니다.




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